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Informations du chercheur

Nom complet

ESSAFTI ABDELHADI

Grade

PES

Spécialité

Non spécifié

Thématique de recherche

Non spécifié

Laboratoire

Laboratoire Matériaux, Energie et Environnement

Établissement

Non spécifié

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Publications (23 au total)

• FTIR and Raman study of rapid thermal annealing and oxidation effects on structural properties of silicon-rich SixC1-x thin films deposited by R.F co-sputtering

Auteur: A. El khalfi, E. Ech-chamikh, Y. Ijdiyaou, M.Azizan, A. Essafti, L. Nkhaili, A. El Kissani, E. Tomasella

Revue: Vibrationnal spectroscpy

Année: 2017

Optical Properties of Amorphous Silicon-Carbon Alloys (a-SixC1-x) Deposited by RF Co-Sputtering

Auteur: A. El Khalfi, E. Ech-chamikh, Y. Ijdiyaou, M. Azizan, A. Essafti.

Revue: Arabian Journal for Science and Engineering

Année: 2014

Infrared and raman study of amorphous silicon carbide thin films deposited by radiofrequency cosputtering

Auteur: A. El khalfi, E. Ech-chamikh, Y. Ijdiyaou, M.Azizan, A. Essafti, L. Nkhaili,A. Outzourhit

Revue: Spectroscopy Letters, 47(5), pp. 392–396

Année: 2014

Optical and electrical characteristics of amorphous boron carbonitride thin films deposited by radiofrequency sputtering

Auteur: A. Essafti, E. Ech-Chamikh.

Revue: Journal of Materials Science

Année: 2011

Structural and optical properties of amorphous oxygenated iron boron nitride thin films produced by reactive co-sputtering

Auteur: A. Essafti, A. Abouelaoualim, J.L.G. Fierro, E. Ech-chamikh.

Revue: Thin Solid Films

Année: 2009

Optical properties of amorphous boron carbonitride thin films deposited by reactive radiofrequency sputtering

Auteur: A. Essafti, E. Ech-chamikh, M. Azizan, Y. Ijdiyaou.

Revue: Physical and Chemical News

Année: 2009

Annealing effects on RF sputter deposited a-Si/a-C multilayers

Auteur: E. Ech-Chamikh, A. Essafti, M. Azizan, F. Debbagh, Y. Ijdiyaou.

Revue: Journal of Nano Research,

Année: 2008

Structural and chemical study of a-BC, a-CN, and a-BCN thin films prepared by reactive RF sputtering

Auteur: A. Essafti, E. Ech-Chamikh, M. Azizan.

Revue: Spectroscopy Letters

Année: 2008

Structural characterization of RF-sputtered a-C:N thin films by Raman, IR, and X-ray reflectometry spectroscopies

Auteur: A. Essafti, E. Ech-Chamikh, Y. Ijdiyaou, M. Azizan.

Revue: Spectroscopy Letters

Année: 2008

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