Infrared and raman study of amorphous silicon carbide thin films deposited by radiofrequency cosputtering

Auteur

A. El khalfi, E. Ech-chamikh, Y. Ijdiyaou, M.Azizan, A. Essafti, L. Nkhaili,A. Outzourhit

Revue

Spectroscopy Letters, 47(5), pp. 392–396

Année

2014

Chercheur

ESSAFTI ABDELHADI

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