Studies of structural, optical, morphological and electrical properties of RF- sputtered V2O5 thin films with annealing of 400 0C. - Détails de la communication

Production Scientifique P.S.

Studies of structural, optical, morphological and electrical properties of RF- sputtered V2O5 thin films with annealing of 400 0C.

Auteur

Mohammed.Bousseta*, L. Nkhali, A. Narjis, A. EL Hichou, A. Outzourhit

Manifestation

Poster

Date

2021-10-28

Organisation

Marrakech,Maroc

Chercheur

Outzourhit Abdelkader

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